I.J. Zatz;
R. Baker;
A. Brooks;
M. Cole;
G.H. Neilson;
C. Lowry;
M. Mardenfeld;
H. Omran;
V. Thompson;
T. Todd;
JET EFDA contributors;
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P. Sonato;
W.R. Baker;
P. Beaumont;
C. Damiani;
P. Fiorentin;
A. Guigon;
K. Fullard;
A. Goodyear;
L. Gr;
o;
S. Huntley;
N. Lam;
A. Lioure;
A. Loving;
D. Marcuzzi;
S. Mills;
S. Peruzzo;
N. Pomaro;
V. Riccardo;
M. Way;
JET-EFDA Contributors;
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G.L. Jackson;
M. Murakami;
D.R. Baker;
R. Budny;
M. Charlet;
M.R. deBaar;
P. Dumortier;
T.E. Evans;
R.J. Groebner;
N.C. Hawkes;
D. Hillis;
L.C. Ingesson;
E. Joffrin;
H.R. Koslowski;
K.D. Lawson;
G. Maddison;
G.R. McKee;
A.M. Messiaen;
P. Monier-Garbet;
M.F.F. Nave;
J. Ongena;
J. Rapp;
F. Sartori;
G.M. Staebler;
M. Stamp;
J.D. Strachan;
M. Tokar;
B. Unterberg;
M. von Hellerman;
M.R. Wade;
JET EFDA Contributors;
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G.L. Jackson;
M. Murakami;
D.R. Baker;
R. Budny;
M. Charlet;
M.R. DeBaar;
P. Dumortier;
T.E. Evans;
R.J. Groebner;
N.C. Hawkes;
D.L. Hillis;
L.C. Ingesson;
E. Joffrin;
H.R. Koslowski;
K.D. Lawson;
G. Maddison;
G.R. McKee;
A.M. Messiaen;
P. Monier-Garbet;
M.F.F. Nave;
J. Ongena;
J. Rapp;
F. Sartori;
G.M. Staebler;
M. Stamp;
J.D. Strachen;
M. Tokar;
B. Uunterberg;
M. vonHellerman;
M.R. Wade;
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